报道了X射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法,校正了样品中元素间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构,不同几何形态及不同表面状态的影响,使钢屑样品可不经处理直接测定,操作简便。
【化】 X射线荧光光谱仪
X-ray fluorescence spectrometer
暂无补充释义。
相关例句
10 X光萤光光谱仪之应用,量测资讯66期,1999年3月.与林勇志(先前任职科荣股份有限公司,现任职科诚有限公司,中国分公司)合着.
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